ICT33C+数/模集成电路测试仪
1 、系统主要构成： （1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。 （2） 程序存储器：128K EPROM。 （3） RAM缓冲区：128K静态RAM。 （4） 显示器：8位液晶显示器。 （5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。 （6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
View ArticleBJ3125A数字IC测试系统
采用通用微机控制 采用页表式编程 完善的诊断校准程序 商业化齐套实用的程序库 具有测试存储器的软件图形发生器 具有电平精度高、输出阻抗低、电平范围宽的三态驱动器。 可对开路门进行测试 具有三态测试能力 采用地缓冲放大器，以利用提高直流参数测试精度
View ArticleBJ3195A型A/DD/A测试仪
本测试仪可测试12位及以下A/D、D/A转换器的静态参数，可用于A/D、D/A的验收测试及各种应用测试。 BJ3195A 型A/D D/A测试仪是参考美国GR1731测试系统的模式，采用模块化结构，并继承了BJ3125型中小规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型线性IC测试仪
View ArticleCS1610C PXI/CompactPCI接口高速数据采集卡
Description CompuScope 1610Cisa6UformfactorCompactPCIcardthatcansimultaneouslysampletwoanalogsignalsatspeedsupto10MS/swith16bitresolutionandstorethedataintheon-boardmemory....
View ArticleSIMI-100数字集成电路测试仪
在功能测试的基础上 测试器件的输入端注入电流。 测试器件的功耗电流。 测试器件的输入端交叉漏电流。 查找未知芯片型号。 测试器件的输出端：三态“及”OC“门。 可以单次测试，也可以循环测试。 测试器件的输出负载电流。 可自动识别74系列中的CMOS（如：7
View ArticleTE6100 PXI总线高速数据采集卡
Features Four InstrumentsInOne 100MS/SecDSO/Spectrum DCto50MHzBandwidth100mVto80VFullScale PowerfulSoftware Description...
View ArticlePowerTest1557多功能安装测试仪
The PowerTest 1557 is a multi function installation tester with integral probe, allowing the instrument to be held and the results to be read at the same time. The PowerTest 1557 is also very fast,...
View Article1672G台式逻辑分析仪
68通道逻辑分析系统 优异的性能：150 MHz状态速率,500MHz定时速率,64K标准采集内存, 选项004码型发生器:32通道,100M矢量/秒,256K矢量深度 2GB硬驱和1.44MBDOS软驱 VGA分辨率的彩色平板显示器，帮助用户迅速找到信息 可以选择鼠标操作或前面板操作，使用简便
View ArticleClareG2000照明设备和光源安全测试仪
Comprehensive 5-in-1 Electrical Safety Tester for lighting and luminaire manufacture. The G2000 has been designed specifically for manufacturers of lighting and luminaire products to allow complete...
View ArticleFlash-24GFlash24G USB接口2.4GHz实时频谱分析仪
本仪器使用高性能射频技术、高灵敏度无线通道、，包括高灵敏度天线、测试主机、Flash24G测控软件包、计算机USB接口电缆等绝对超值！ EndFragment--
View ArticleBJ2912C稳压二极管测试仪
BJ2912C型稳压二极管测试仪符合国家GB6571-86标准及国标IEC标准的规定。可满足2CW系列，2DW系列，玻封二极管1N4370~4372、1N746~986、1N4728~4764等系列，电压基准二极管2DW230~236系列，2DW8A~8C系列、表面安装稳压二极管RLZ3.3~30系列产品的稳定电压，动态
View ArticleLA55160-256K逻辑分析仪
高速采样速率可达: LA2132 K系列：250MSa/s LA2132M系列：500MSa/s LA2132G系列：1GSa/s ・32通道，或64通道 ・每通道的存储深度： LA2132K系列：256K LA2132M系列：1024K LA2132G系列：4096K ・连续可变的前/后触发位置 ・高阻抗探头减小被测电路之间的干扰
View ArticleBJ2961A晶体管开关参数测试仪
仪器主要测量参数 测试中小功率半导体三极管开关参数, 功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。 Td延迟时间 tr被测晶体管上升时间 ton晶体管开启时间 ts存贮时间 tf被测晶体管下降时间 toff晶体管下降时间
View ArticlePrimeTest350PAT测试仪
The PrimeTest 350 PAT tester enables fast and efficient portable appliance testing. This handheld battery powered tester stores results and connects wirelessly to results printers and barcode scanners....
View ArticleBJ2939半导体分立器件测试仪
BJ2939是我公司推出的一种高端半导体分立器件测试系统。该系统充分吸收国外先进测试系统的特点，采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及阵列开关结构技术，并选用优质材料制作。在
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